Поиск по всему репозиторию:

Алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС по ключевым точкам

Thumbnail
Открыть/скачать файлы документа
Автор
Дата издания
2015
Издательство
БрГТУ
УДК
004.5
 
621.38
Библиографическое описание
Дудкин, А. А. Алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС по ключевым точкам / А. А. Дудкин, А. А. Воронов, Е. Е. Марушко // Вестник Брестского государственного технического университета. Серия: Физика, математика, информатика. – 2015. – № 5. – С. 10–12. – Библиогр.: с. 12 (4 назв.).
Аннотация
Рассматривается алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС для формирования полного изображения слоя без искажений. Кадры получены путем съемки микроскопом с большим увеличением технологического слоя микросхемы. Областями применения результатов работы являются цифровая обработка изображений, методы анализа изображений.
Аннотация на другом языке
Merging algorithm for layout frame of VLSI by key points is considered to form a complete image of VLSI layout without distortion. Each frame of VLSI layout obtained by electron microscope. Many frames require a lot of computation for positioning each frame inside the common image. Results, that was described in this paper, can be applied to image processing and analysis.
URI документа
https://rep.bstu.by/handle/data/942
Документ расположен в коллекции