| dc.contributor | Брестский государственный технический университет | ru_RU |
| dc.contributor | Brest State Technical University | ru_RU |
| dc.contributor.author | Дудкин, Александр Арсентьевич | |
| dc.contributor.author | Воронов, А. А. | |
| dc.contributor.author | Марушко, Евгений Евгеньевич | |
| dc.coverage.spatial | Брест | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2019-08-23T06:52:00Z | |
| dc.date.available | 2019-08-23T06:52:00Z | |
| dc.date.issued | 2015 | |
| dc.identifier.citation | Дудкин, А. А. Алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС по ключевым точкам / А. А. Дудкин, А. А. Воронов, Е. Е. Марушко // Вестник Брестского государственного технического университета. Серия: Физика, математика, информатика. – 2015. – № 5. – С. 10–12. – Библиогр.: с. 12 (4 назв.). | ru_RU |
| dc.identifier.issn | 1818-1112 | |
| dc.identifier.uri | https://rep.bstu.by/handle/data/942 | |
| dc.description | DOUDKIN A. А., VORONOV A. А., MARUSHKO Y. Е. Merging algorithm for VLSI layout frames by key points | ru_RU |
| dc.description.abstract | Рассматривается алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС для формирования полного изображения слоя без искажений. Кадры получены путем съемки микроскопом с большим увеличением технологического слоя микросхемы. Областями применения результатов работы являются цифровая обработка изображений, методы анализа изображений. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БрГТУ | ru_RU |
| dc.relation.ispartofseries | Физика, математика, информатика; | |
| dc.subject | информационные технологии | ru_RU |
| dc.subject | обработка данных | ru_RU |
| dc.subject | фотоэлектроника | ru_RU |
| dc.subject | information technology | ru_RU |
| dc.subject | data processing | ru_RU |
| dc.subject | photoelectronics | ru_RU |
| dc.title | Алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС по ключевым точкам | ru_RU |
| dc.type | Статья (Article) | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 004.5 | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 621.38 | ru_RU |
| dc.abstract.alternative | Merging algorithm for layout frame of VLSI by key points is considered to form a complete image of VLSI layout without distortion. Each frame of VLSI layout obtained by electron microscope. Many frames require a lot of computation for positioning each frame inside the common image. Results, that was described in this paper, can be applied to image processing and analysis. | ru_RU |
