Search
Алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС по ключевым точкам
View/
Date
2015Publisher
БрГТУUDC
004.5Citation
Дудкин, А. А. Алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС по ключевым точкам / А. А. Дудкин, А. А. Воронов, Е. Е. Марушко // Вестник Брестского государственного технического университета. Серия: Физика, математика, информатика. – 2015. – № 5. – С. 10–12. – Библиогр.: с. 12 (4 назв.).Abstract
Рассматривается алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС для формирования полного изображения слоя без искажений. Кадры получены путем съемки микроскопом с большим увеличением технологического слоя микросхемы. Областями применения результатов работы являются цифровая обработка изображений, методы анализа изображений.
Annotation in another language
Merging algorithm for layout frame of VLSI by key points is considered to form a complete image of VLSI layout without distortion. Each frame of VLSI layout obtained by electron microscope. Many frames require a lot of computation for positioning each frame inside the common image. Results, that was described in this paper, can be applied to image processing and analysis.
Collection
- 2015 [25]
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial» («Атрибуция-Некоммерчески») 4.0 Всемирная.