Поиск по всему репозиторию:
Просмотр2015 по теме "photoelectronics"
Отображаемые элементы 1-1 из 1
-
Алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС по ключевым точкам
(БрГТУ, 2015)Рассматривается алгоритм сшивки кадров слоя топологии СБИС для формирования полного изображения слоя без искажений. Кадры получены путем съемки микроскопом с большим увеличением технологического слоя микросхемы. Областями применения результатов работы являются цифровая обработка изображений, методы ...2019-08-23