Поиск по всему репозиторию:
О влиянии электромагнитного поля на точность геометрического нивелирования

Открыть/скачать файлы документа
Дата издания
1995Издательство
БПИБиблиографическое описание
Зеленский, А. М. О влиянии электромагнитного поля на точность геометрического нивелирования / А. М. Зеленский // Тезисы докладов ХХI научно-технической конференции в рамках проблемы «Наука и мир» : в 3 частях / Министерство народного образования Республики Беларусь, Брестский политехнический институт ; редкол.: П. П. Строкач (гл. ред.) [и др.]. – Брест : БПИ, 1995. – Часть 3. – С. 77.URI документа
https://rep.bstu.by/handle/data/37926Документ расположен в коллекции

Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial» («Атрибуция-Некоммерчески») 4.0 Всемирная.