Search

Show simple item record

dc.contributor.authorЗеленский, Алексей Михайлович
dc.coverage.spatialБрест
dc.date.accessioned2023-12-06T13:40:38Z
dc.date.available2023-12-06T13:40:38Z
dc.date.issued1995
dc.identifier.citationЗеленский, А. М. О влиянии электромагнитного поля на точность геометрического нивелирования / А. М. Зеленский // Тезисы докладов ХХI научно-технической конференции в рамках проблемы «Наука и мир» : в 3 частях / Министерство народного образования Республики Беларусь, Брестский политехнический институт ; редкол.: П. П. Строкач (гл. ред.) [и др.]. – Брест : БПИ, 1995. – Часть 3. – С. 77.
dc.identifier.urihttps://rep.bstu.by/handle/data/37926
dc.language.isoruru
dc.publisherБПИ
dc.titleО влиянии электромагнитного поля на точность геометрического нивелированияru
dc.typeТезисы доклада (Abstracts)


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record