Поиск по всему репозиторию:

Просмотр 2004 по автору "Раткевич, Алексей Васильевич"

Отображаемые элементы 1-2 из 2

    • Методика фрактального анализа поверхности микрогетерогенных структур по плоским теневым образам 

      Дереченник, Станислав Станиславович; Буслюк, Виктор Вячеславович; Раткевич, Алексей Васильевич; Шепелевич, Ирина Сергеевна (БрГТУ, 2004)
      Разработана новая методика определения клеточной размерности фрактальной гетерогенной структуры по микрофотографиям ее поверхности, на которых присутствуют теневые образы, создаваемые косым освещением. Методика основана на аналитическом вычислении поправки, прибавляемой к измеряемой клеточной размерности ...

      2021-03-25

    • Применение акустической спектроскопии для диагностики пленочных покрытий 

      Костюк, Дмитрий Александрович; Раткевич, Алексей Васильевич (БрГТУ, 2004)
      Рассматривается практическая возможность и перспективы применения акустики сильно диссипативных сред для диагностики пленочных покрытий. Рассмотрены методы, традиционно используемые для диагностики покрытий. Описывается сущность предлагаемого акустического подхода к определению толщины, сплошности, ...

      2021-03-25