Поиск по всему репозиторию:

Показать краткое описание

dc.contributor.authorКороткевич, П. М.
dc.coverage.spatialБрест
dc.date.accessioned2021-06-14T06:59:53Z
dc.date.available2021-06-14T06:59:53Z
dc.date.issued1996
dc.identifier.citationКороткевич, П. М. Псевдоисчерпывающее встроенное тестирование памяти / П. М. Короткевич // Материалы научно-технической конференции, посвященной 30-летию института : [тезисы докладов] : в 3 частях / Министерство образования и науки Республики Беларусь, Брестский политехнический институт ; редкол.: П. П. Строкач (гл. ред.) [и др.]. – Брест : БПИ, 1996. – Часть 2. – С. 93–94.
dc.identifier.urihttps://rep.bstu.by/handle/data/19523
dc.language.isoruru
dc.publisherБПИ
dc.titleПсевдоисчерпывающее встроенное тестирование памятиru
dc.typeТезисы доклада (Abstracts)


Файлы в этом документе

Thumbnail

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать краткое описание