Методика фрактального анализа поверхности микрогетерогенных структур по плоским теневым образам

Abstract

Разработана новая методика определения клеточной размерности фрактальной гетерогенной структуры по микрофотографиям ее поверхности, на которых присутствуют теневые образы, создаваемые косым освещением. Методика основана на аналитическом вычислении поправки, прибавляемой к измеряемой клеточной размерности фрактального контура тени. С помощью оригинальной программной системы выполнен обширный вычислительный эксперимент, статистическая обработка результатов которого позволила эмпирически установить простую зависимость для вычисления поправки. Методика является неразрушающей, обладает достоверностью и хорошей точностью в широком диапазоне исходных параметров, и может применяться, совместно с аппаратурными средствами контроля параметров твердотельных микроструктур, для количественного анализа их морфологических свойств.