Search

Now showing items 1-1 of 1

    • Методика фрактального анализа поверхности микрогетерогенных структур по плоским теневым образам 

      Дереченник, Станислав Станиславович; Буслюк, Виктор Вячеславович; Раткевич, Алексей Васильевич; Шепелевич, Ирина Сергеевна (БрГТУ, 2004)
      Разработана новая методика определения клеточной размерности фрактальной гетерогенной структуры по микрофотографиям ее поверхности, на которых присутствуют теневые образы, создаваемые косым освещением. Методика основана на аналитическом вычислении поправки, прибавляемой к измеряемой клеточной размерности ...

      2021-03-25