| dc.contributor | Брестский государственный технический университет | ru_RU |
| dc.contributor | Brest State Technical University | ru_RU |
| dc.contributor.author | Дудкин, Александр Арсентьевич | |
| dc.coverage.spatial | Брест | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2019-08-22T08:40:18Z | |
| dc.date.available | 2019-08-22T08:40:18Z | |
| dc.date.issued | 2014 | |
| dc.identifier.citation | Дудкин, А. А. Построение полного изображения топологического слоя интегральной схемы из совокупности перекрывающихся кадров / А. А. Дудкин // Вестник Брестского государственного технического университета. Серия: Физика, математика, информатика. – 2014. – №5. – С. 12–17. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://rep.bstu.by/handle/data/937 | |
| dc.description | DOUDKIN А.А. Layout restoring algorithms for a task of integrated circuits r e-design | ru_RU |
| dc.description.abstract | В работе предложены приближенные алгоритмы для формирования полного изображения по совокупности растровых кадров
изображений топологии слоев интегральных схем. Алгоритмы основаны на использовании специальных эвристик, что обеспечивает
совмещение областей перекрытия без использования реперных
точек и способствует качественному анализу и корректному восстановлению топологии интегральных схем ИС. Выбор той или иной
схемы склейки зависит от степени и характера погрешностей, вносимых устройством ввода. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БрГТУ | ru_RU |
| dc.relation.ispartofseries | Физика, математика, информатика; | |
| dc.subject | механика | ru_RU |
| dc.subject | mechanics | ru_RU |
| dc.title | Построение полного изображения топологического слоя интегральной схемы из совокупности перекрывающихся кадров | ru_RU |
| dc.type | Статья (Article) | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 681.4 | ru_RU |
| dc.abstract.alternative | Approximate algorithms are proposed to form a complete set of image raster image frames topology layers of integrated circuits. The algorithms are
based on the use of specific heuristics that provide a combination of overlapping areas without the use of reference points, and contribute to the qualitative
analysis and the correct reconstruction of the topology of integrated circuits. The choice of a bonding scheme depends on the extent and nature of
the errors introduced by the input device. | ru_RU |
