| dc.contributor | Брестский государственный технический университет | ru_RU |
| dc.contributor | Brest State Technical University | ru_RU |
| dc.contributor.author | Русаков, Константин Иванович | |
| dc.contributor.author | Пфеффер, Михаэль | |
| dc.coverage.spatial | Брест | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2020-09-02T13:37:43Z | |
| dc.date.available | 2020-09-02T13:37:43Z | |
| dc.date.issued | 2009 | |
| dc.identifier.citation | Русаков, К. И. Исследование поверхностей структур с нанокристаллами CdS и CdSe методом атомно-силовой микроскопии / К. И. Русаков, М. Пфеффер // Вестник Брестского государственного технического университета. Серия: Физика, математика, информатика. – 2009. – № 5. – С. 105–109 : ил. – Библиогр.: с. 109 (2 назв.). | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://rep.bstu.by/handle/data/7201 | |
| dc.description | RUSAKOV К. I., PFEFFER М. Research of surfaces of structures with nanocrystals CdS and CdSe by a method atomic-power microscopy | ru_RU |
| dc.description.abstract | С помощью метода атомно-силовой микроскопии (АСМ) изучены особенности морфологии поверхности структур с нанокристаллами сульфида кадмия и селенида кадмия, структур «ядро-оболочка» CdSe/ZnS, изучены спектры поглощения нанокристаллов CdSe в диэлектрической матрице полиметилметакрилата (ПММА). | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БрГТУ | ru_RU |
| dc.relation.ispartofseries | Физика, математика, информатика; | |
| dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | atomic-power microscopy | ru_RU |
| dc.title | Исследование поверхностей структур с нанокристаллами CdS и CdSe методом атомно-силовой микроскопии | ru_RU |
| dc.type | Статья (Article) | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 534.42 | ru_RU |
| dc.abstract.alternative | The formation and ordering of CdS nanocrystals and agglomeration of the thin single crystalline CdS layer in polymeric film has been investigated using atomic force microscopy. The formation of multi-structure „core-shell“ CdSe/ZnS in polymeric film has been investigated using atomic force microscopy. | ru_RU |
