| dc.contributor.other | Маркевич, Константин Михайлович | |
| dc.contributor.other | Дереченник, Станислав Станиславович | |
| dc.contributor.other | Чугунов, Сергей Владимирович | |
| dc.coverage.spatial | Брест | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2020-06-08T14:03:07Z | |
| dc.date.available | 2020-06-08T14:03:07Z | |
| dc.date.issued | 2011 | |
| dc.identifier.citation | Методические указания к выполнению лабораторных работ "Измерение характеристик и параметров полупроводниковых транзисторов" по курсу "Метрология, стандартизация и сертификация в информатике и радиоэлектронике" для специальностей: 36 04 02, 40 02 01,40 03 01, 53 01 02 / Министерство образования Республики Беларусь, Брестский государственный технический университет, Кафедра физики ; сост. К. М. Маркевич, С. С. Дереченик, С. В. Чугунов. – Брест : БрГТУ, 2011. – 19 с. – 50 экз. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://rep.bstu.by/handle/data/5960 | |
| dc.description | Markevich Konstantin Mikhailovich; Derechennik Stanislav Stanislavovich; Chugunov Sergey Vladimirovich. Methodological instructions for the implementation of laboratory work "Measurement of the characteristics and parameters of semiconductor transistors" for the course "Metrology, standardization and certification in computer science and radio electronics" for the specialties: 36 04 02, 40 02 01.40 03 01, 53 01 02 | ru_RU |
| dc.description.abstract | В методических указаниях приведено описание лабораторной работы
по измерению входных-выходных характеристик транзистора и, лабораторной работы, по измерению величин сопротивления, индуктивности и емкости. Структура лабораторных работ включает: теоретические сведения, задания для самостоятельной работы, контрольные вопросы и рекомендуемую
литературу. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БрГТУ | ru_RU |
| dc.subject | электроизмерительная техника | ru_RU |
| dc.subject | electrical engineering | ru_RU |
| dc.title | Методические указания к выполнению лабораторных работ "Измерение характеристик и параметров полупроводниковых транзисторов" по курсу "Метрология, стандартизация и сертификация в информатике и радиоэлектронике" для специальностей: 36 04 02, 40 02 01,40 03 01, 53 01 02 | ru_RU |
| dc.type | Объект обучения (Learning Object) | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 621.317 | ru_RU |
