Поиск по всему репозиторию:

Показать краткое описание

dc.contributor.authorАлешкевич, Н. И.
dc.contributor.authorСвириденко, Ю. Н.
dc.contributor.authorСытько, В. В.
dc.coverage.spatialБрест
dc.date.accessioned2024-01-08T08:34:14Z
dc.date.available2024-01-08T08:34:14Z
dc.date.issued1994
dc.identifier.citationАлешкевич, Н. И. Метрологическая оценка фотометрических методов измерения шероховатости сверхгладких поверхностей / Н. И. Алешкевич, Ю. Н. Свириденко, В. В. Сытько // Тезисы докладов ХХI научно-технической конференции в рамках проблемы «Наука и мир» / Министерство образования и науки Республики Беларусь, Брестский политехнический институт ; редкол.: П. П. Строкач (гл. ред.) [и др.]. – Брест : БПИ, 1994. – Часть 1. – С. 81–82.
dc.identifier.urihttps://rep.bstu.by/handle/data/39084
dc.language.isoruru
dc.publisherБПИ
dc.titleМетрологическая оценка фотометрических методов измерения шероховатости сверхгладких поверхностейru
dc.typeТезисы доклада (Abstracts)


Файлы в этом документе

Thumbnail

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать краткое описание