Поиск по всему репозиторию:

Просмотр по автору "Раткевич, Алексей Васильевич"

Отображаемые элементы 1-3 из 3

    • Методика фрактального анализа поверхности микрогетерогенных структур по плоским теневым образам 

      Дереченник, Станислав Станиславович; Буслюк, Виктор Вячеславович; Раткевич, Алексей Васильевич; Шепелевич, Ирина Сергеевна (БрГТУ, 2004)
      Разработана новая методика определения клеточной размерности фрактальной гетерогенной структуры по микрофотографиям ее поверхности, на которых присутствуют теневые образы, создаваемые косым освещением. Методика основана на аналитическом вычислении поправки, прибавляемой к измеряемой клеточной размерности ...

      2021-03-25

    • Применение акустической спектроскопии для диагностики пленочных покрытий 

      Костюк, Дмитрий Александрович; Раткевич, Алексей Васильевич (БрГТУ, 2004)
      Рассматривается практическая возможность и перспективы применения акустики сильно диссипативных сред для диагностики пленочных покрытий. Рассмотрены методы, традиционно используемые для диагностики покрытий. Описывается сущность предлагаемого акустического подхода к определению толщины, сплошности, ...

      2021-03-25

    • Применение фрактальных методов в экспериментальных и теоретических исследованиях тонкопленочных структур 

      Раткевич, Алексей Васильевич; Дереченник, Станислав Станиславович (БрГТУ, 2003)
      Обсуждены различные аспекты изучения тонкопленочных микроэлектронных структур с точки зрения их фрактальных свойств. Определена степень пригодности для этих целей некоторых известных экспериментальных методов измерения структурных и топографических характеристик твердотельных объектов. Классифицированы ...

      2021-03-24