Поиск по всему репозиторию:

Просмотр по автору "Пфеффер, Михаэль"

Отображаемые элементы 1-2 из 2

    • Атомно-силовая микроскопия поверхности полупроводниковых наноструктур 

      Русаков, Константин Иванович; Пфеффер, Михаэль (БрГУ им. А. С. Пушкина, 2009)
      Русаков, К. И. Атомно-силовая микроскопия поверхности полупроводниковых наноструктур / К. И. Русаков, М. Пфеффер // Современные научные проблемы и вопросы преподавания теоретической и математической физики, физики конденсированных сред и астрономии : сборник материалов III республиканской научно-методической ...

      2024-09-06

    • Исследование поверхностей структур с нанокристаллами CdS и CdSe методом атомно-силовой микроскопии 

      Русаков, Константин Иванович; Пфеффер, Михаэль (БрГТУ, 2009)
      С помощью метода атомно-силовой микроскопии (АСМ) изучены особенности морфологии поверхности структур с нанокристаллами сульфида кадмия и селенида кадмия, структур «ядро-оболочка» CdSe/ZnS, изучены спектры поглощения нанокристаллов CdSe в диэлектрической матрице полиметилметакрилата (ПММА).

      2020-09-02